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薄膜铁电性能综合测试仪

简要描述:FETS-2000b 薄膜铁电性能综合测试仪具有动态电滞回线(DHM)、I-V特性、脉冲(PUND)、静态电滞回线(SHM)、疲劳(FM)、漏电流(LM)、电流-偏压、保持力(RM)、印迹(IM)的测试功能.,可广泛地应用于如各种铁电/压电/热释电薄膜、厚膜、体材料和电子陶瓷、铁电传感器/执行器/存储器等领域的研究。

  • 产品型号:FETS-2000b
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-02-17
  • 访  问  量:597

详细介绍

品牌其他品牌应用领域化工,能源,电子,航天,综合
动态电滞回线测试频率0.001Hz~5kHz/10kHz/50kHz/100kHz/500kHz内置激励±10/30/100/200/500VAC(可定制)
测试功能动态电滞回线(DHM);I-V特性;脉冲(PUND);静态电滞回线(SHM);疲劳(FM);漏电流最大电荷解析度1mC(可定制)
漏电流测量范围1 pA ~ 20 mA测量精度10 fA
配件与探针台配套使用

FETS-2000b薄膜铁电性能综合测试仪具有动态电滞回线(DHM)、I-V特性、脉冲(PUND)、静态电滞回线(SHM)、疲劳(FM)、漏电流(LM)、电流-偏压、保持力(RM)、印迹(IM)的测试功能.,可广泛地应用于如各种铁电/压电/热释电薄膜、厚膜、体材料和电子陶瓷、铁电传感器/执行器/存储器等领域的研究。

铪基薄膜 电滞回线 - 水印单图.jpg


FETS-2000b薄膜铁电性能综合测试仪与探针台配套使用,可实现薄膜的铁电性能测试。动态电滞回线测试频率和激励测试电源,用户可根据需要进行选择,动态电滞回线测试频率范围为1mHz~500kHz可选,激励测试电源±10/30/100/200/500VAC可选,也可根据用户需要进行定制。


本测试系统由主控器、探针台、计算机及系统软件部分组成。主控器集成了内置激励测试电源、电荷积分器、可编程放大器、模数转换器、通讯总线等功能,系统软件包括可视化数据采集和管理功能,测试时,无需改变测试样品的连接,即可实现滞回,脉冲,漏电,IV等性能测试。


本测试系统铁电性能测试采用改进的Sawyer- Tower测量方法,与传统的Sawyer- Tower模式相比,此电路取消了外接电容,可减小寄生元件的影响。此电路的测试精度仅取决于积分器积分电容的精度,减少了对测试的影响环节,容易定标和校准,并且能实现较高的测量准确度。


本系统提供外接高压放大器的接口,对于需要做高压测试、高压漏电流测试 的用户,可直接扩展此功能。

用户选择此款设备,需向厂家提供测试频率、激励测试电压等要求。

测试功能:

  • 动态电滞回线(DHM)

  • I-V特性

  • 脉冲(PUND)

  • 静态电滞回线(SHM)

  • 疲劳(FM)

  • 漏电流(LM)

  • 电流-偏压

  • 保持力(RM)

  • 印迹(IM)

可扩展部件:

  • 探针台








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