PCTS-3000H高低温热释电系数测试系统采用直接测量法测量热释电材料在均匀升温过程中释放出来的热释电电流，计算得到本征热释电系数，适用于各种热释电薄膜、厚膜、单晶、陶瓷材料等的测试。

PCTS-2000E偏置电场下热释电系数测试系统采用直接测量法，在热释电材料两端施加直流偏场的条件下，测量热释电材料在均匀升温过程中释放出来的热释电电流，计算得到场致热释电系数，适用于各种热释电薄膜、厚膜、单晶、陶瓷材料等的测试。

PCTS-2000H高温热释电测试系统采用直接测量法测量热释电材料在均匀升温过程中释放出来的热释电电流，计算得到本征热释电系数，适用于各种热释电薄膜、厚膜、单晶、陶瓷材料等的测试。

PCTS-3000E中低温偏置电场下热释电测试系统采用直接测量法，在热释电材料两端施加直流偏场的条件下，测量热释电材料在均匀升温过程中释放出来的热释电电流，计算得到场致热释电系数，适用于各种热释电薄膜、厚膜、单晶、陶瓷材料等的测试。

PCTS-2000热释电系数测试系统采用直接测量法测量热释电材料在均匀升温过程中释放出来的热释电电流，计算得到本征热释电系数。

PCTS-3000中低温热释电系数测试系统采用直接测量法测量热释电材料在均匀升温过程中释放出来的热释电电流，计算得到本征热释电系数，适用于各种热释电薄膜、厚膜、单晶、陶瓷材料等的测试。