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铁电参数测试仪/PUND测试

简要描述:研禾科技FETS-1000铁电参数测试仪/PUND测试可用于材料铁电性能测试中测试信号的输出和反馈信号的收集,可进行电滞回线测试、漏电流测试、疲劳测试、电击穿强度测试、小信号电容测试、PUND测试、印痕测试、保持力测试等铁电性能的检测。

  • 产品型号:FETS-1000
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-02-17
  • 访  问  量:2785

详细介绍

品牌其他品牌价格区间5万-10万
产地类别国产应用领域化工,地矿,能源,电子,航天
频率范围0.01Hz~1kHz最大电荷解析度10mC

FETS-2000是一款功能丰富的铁电参数测试仪/PUND测试,可广泛地应用于如各种铁电/压电/热释电薄膜、厚膜、体材料和电子陶瓷、铁电传感器/执行器/存储器等领域的研究。

铁电参数测试主要性能指标:

a. 外接5 kV高压放大器;

b. 动态电滞回线测试频率范围0.01 Hz ~ 1 kHz;

c. 最大电荷解析度:10 mC

d. 疲劳测试频率300 kHz(振幅10 Vpp,负载电容1 nF);

e. 漏电流测量范围 1 pA ~ 20 mA,分辨率0.1 pA;

f. 配有高压击穿保护模块。

本测试系统由主控器、高压放大器、变温综合测试平台(配铁电测试盒)或高低温探针台(配高压探针)、计算机及系统软件部分组成。主控器集成了可编程波形发生器、内置驱动电压、电荷积分器、可编程放大器、模数转换器、通讯总线等功能,主控器提供扩展外置高压放大器接口,可扩展±5 kV或±10 kV的高压放大器。系统软件包括可视化数据采集和管理功能,测试时,无需改变测试样品的连接,即可实现滞回,脉冲,漏电,IV等性能测试。

铁电参数测试仪/PUND测试采用改进的Sawyer- Tower测量方法,与传统的Sawyer- Tower模式相比,此电路取消了外接电容,可减小寄生元件的影响。此电路的测试精度仅取决于积分器积分电容的精度,减少了对测试的影响环节,容易定标和校准,并且能实现较高的测量准确度。

该系统测试功能:

动态电滞回线DHM

I-V特性

脉冲PUND

疲劳Fatigue

漏电流LM

电流-偏压。


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